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近日,「藍色巨人」IBM發表新聞稿,表示他們已經率先全球,發表他們的2奈米製程做出來的晶片,

我個人猜測年底會發表正式的數據於IEDM。

根據新聞稿所說,IBM做出的2nm製程晶片相較於7nm製程,

在高性能的情境下可以提升45%的效能,或是在功耗為重時,節省75%的功耗。

新聞稿一出來,引發各界熱烈的討論,尤其還有媒體以「台積電危險了?」「超車台積電?」之類的標題搏取眼球,

以下就來分析一下這次IBM到底發表了什麼。

 

IBM到底做了什麼?

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首先,由照片可以看出,IBM的2nm是採取「奈米片」 (Nanosheet)的環繞式閘極 (Gate All Around, GAA)技術,

我在先前的文章 https://swospam0418.pixnet.net/blog/post/463212365 就已經介紹過相關的技術細節,

其實三星/IBM/Global Foundry 在2018年時就已經在三星的年度技術論壇發表他們將應用在3nm製程上的GAA技術,

官方名稱叫 Multi-Bride Channel Effect Field Effect Transistor,簡稱 MCBFET,

GAA, IBM

這次發表出來的成果是3nm技術更近一步發展的成果,其實從他們發表的照片可以看到一些小細節,

包括 (1) Sheet 的形狀看起來更完整,uniformity也進步許多,看起來他們這幾年有很努力調recipe

(2) 在最下面的sheet 下面多夾了一層東西,看起來像是以ALD形成的SiN like的low K材料,文宣上說這個叫bottom dielectric isolation,

以這個為關鍵字就能找到這其實是IBM在2019年在IEDM上就發表過的相關文章,https://ieeexplore.ieee.org/document/8993490

之所以會需要這層dielectric,是因為為了換取更好的電性,元件的gate length不斷縮減以換取更低的C (電容)值,帶來更好的功耗,

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但是閘長降低帶來的就是更困難的gate control導致漏電,

另外考量到sheet本身的寬度設計,比較寬的sheet在相同的後段佈線電阻/電容下,寬一點的sheet的元件性能會更加優越,

綜合各種考量,2奈米製程的會希望channel length 可以來到12奈米,而sheet也要寬一點,

但是當sheet一寬,gate control 就相對變差,尤其是sheet中間的位置會尤其嚴重,

IBM曾經提出一個叫punch through stopper (PTS)的技術,利用implant 來解決sub-fin leakage 的問題,

但是在nanosheet的 device上經過考量製程變異 (S/D 深度差)後,PTS 能允許的process window比較不足,

因此IBM提出 bottom dielectric isolation的手法,而且理想的情況下是如下圖所示,不管是S/D區還是gate下面都有BDI。

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至於BDI的製作方法,首先要理解Nanosheet的製程流程,可以參考下圖

在製作nanosheet時,要先形成SiGe/Si 交替的NS stack,而要實現BDI,重點是除了三層SiGe 以外,

最下面還要再多一層高濃度的SiGe,目的在於日後可以用高選擇比 (吃Ge不吃Si)的製程來處理掉它,

那一層高濃度SiGe被蝕刻掉之後,dielectric 就會用ALD的方式填入,形成所謂 bottom dielectric isolation。

IBM在論文中還提供實際的照片,在製程中是位於上圖所示的(e)和(f): inner spacer和 dual SD epitaxy。

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實際的電性上,IBM發現BDI相較於 PTS技術,在漏電的表現上更加優異,尤其在short channel處更加明顯,

而在高速運算的應用方面,BDI也能降低寄生電容,從而讓元件的性能提升將近5%,或是在同性能下節省降近20%的功耗。

老實說這種表現算是相當驚人,原因是隨著製程不斷微縮,性能的提升其實越來越困難,能夠擠出1~2%都很厲害了,

何況是BKI一口氣提升近5%。只要製程上,IBM能開發出完美的SiGe stacking 濃度和隨後的高選擇比recipe,

BDI的確會是非常有效的解決方案,難怪IBM會在文宣上主打它。

 

上面講完了BDI,這也是從目前唯一公開的2奈米TEM圖中最明顯的特點,

文宣上當然還主打了其它製程,第二項是全新的inner spacer dry process。

關於inner spacer 的作用,我在 https://swospam0418.pixnet.net/blog/post/463212365 就已經完整介紹,

它的作用除了在後面channel release製程時能把蝕刻氣體和SiGe epi 隔開以免epi被傷到以外,還能降低元件的寄生電容,

而IBM強調他們發展了第二代的inner spacer製程,猜測是搭配BDI一起推出的。

第三項是他們運用了EUV技術,讓他們能夠同時做出各種不同寬度的sheet,這部分也是直接影響到元件的性能,

如果希望晶片可以運算在高性能運算,則sheet的寬度希望寬一點。

最後是他們的2奈米製程可以達到多段Vt控制,

這個技術也是他們在2017年的IEDM就有發表過的,https://ieeexplore.ieee.org/document/8268438

要講這個就要特別提到,Nanosheet的層狀結構讓元件多了很多可調性,但製程上就多了不少挑戰,其中之一就是HKMG很難在Si sheet之間疊好,

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Sheet之間的space 會直接影響到workfunction metal 的厚度,進而影響到Vt,而metal本身也有各種組合如metal A和metal B,對Vt有各自的影響,

IBM舉例說明,如果他讓metal A填滿sheet之間的空間,metal B就疊不進去,NFET的Vt就能提升,

甚至於,不同寬度的sheet造成不同寬度的workfunction metal,也會造成他們對Vt的敏感度。

總而言之,

經由不同的sheet to sheet space 和sheet width,可以不需要調整doping 濃度,也能達到多Vt的設計,輕鬆達成設計業者想要的高性能或低功耗等各種產品。

以上四點就是IBM目前主打的2奈米Nanosheet 晶片的各種優勢。

 

台積真的輸了嗎?

上面講了這麼多技術細節,但大家最關心的應該還是: 台積電的2奈米真的落後給IBM了嗎? 

這點我個人認為應該還不用太擔心,事實上,台積電在研發進度方便的口頭一直都很緊,不會太早就放話自己到底是用了什麼技術,

台積電即將在6月初舉辦自己的技術論壇,但是在去年的技術論壇中,台積的米玉傑資深副總已經揭露台積在Nanosheet技術上的投入,

同時也聲明他們已經在32Mb的SRAM上有良率開出,

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而台積公開出來的進度也僅止於此,可見各家真的是對他們的技術保密到家了,

無論如何,這表示台積電也已經在Nanosheet 技術上取得相當程度的成果,就等待六月是不是還有進一步的消息了,我個人是認為不用太過擔心,

畢竟台積電可是連2nm新廠在新竹的計畫都已經研擬中。

事實上,IBM一直都是率先發表技術的那一方,去年台積才正式量產的5奈米技術,在ibm那邊可是2017年就發表他們的5奈米技術了,

可是也不見三星或其它公司有因而在5奈米上打敗台積電,

而這次IBM會搶先發表2奈米技術,感覺也是先喊聲,企圖吸引客戶或代工廠向他們洽洵合作吧,

再過兩年,我們就能見識到2奈米的真正贏家到底是誰了,各位可拭目以待。

 

 

 

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